应用微束分析技术研究铜钴矿床中钴的赋存状态

微束分析技术能够在微米-纳米尺度上准确分析矿石矿物的相、形态、结构、成分和同位素组成，为地球科学的精细研究提供重要的技术支持。本文利用微束分析各种技术的优势，以及微区x射线荧光光谱、偏光显微镜、电子探针（EPMA）和激光剥蚀电感耦合等离子体质谱（LA ICP-MS）等分析技术，建立了一种简单、直观、全面、快速的钴赋存状态识别技术方法。首先通过偏光显微镜选择一些有代表性的探针片，然后进行微区x射线荧光光谱表面扫描，获得探针片中钴及结合元素的分布规律和特征。然后，利用偏光显微镜进行详细观察和鉴定，结合元素分布规律对独立的钴矿物和含钴矿物进行鉴定。最后，圈出了代表性矿物，并用电子探针和La-ICP-Ms测定了主微量化学的成分。该方法用于研究中非铜钴成矿带典型铜钴矿床中钴的赋存状态。研究发现，谦比希东南矿体中的钴主要以两种形式存在：独立矿物（钴镍黄铁矿、硫钴矿和硫铜钴矿）和类质同象（主要在黄铁矿和磁黄铁矿），谦比希西矿体的钴主要以独立矿物硫铜钴矿的形式零星存在。